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稳态卡计法测量材料在不同温度条件下半球发射率

唐根初 , 于云 , 李莹 , 曹韫真

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2008.03.018

通过合理设计,组装了一台稳态卡计法热辐射测量仪,它可以测量材料在173～373 K温度范围内的半球热辐,射率.本文对该装置进行了详细介绍和误差分析,并报道了多种卫星温度控制用热辐射材料和一种新型热致变色材料(thermochromic material)的半球总发射率测量结果.

关键词: 发射率 , 稳态卡计法 , 涂层