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单晶SnO2纳米带裂纹形核的临界应力和断裂韧性

王玉桂 , 乔利杰 , 高克玮 , 宿彦京 , 褚武扬 , 王中林

金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2004.06.007

使用纳米压痕法测量了单晶SnO2纳米带的硬度、断裂韧性以及裂纹形核的临界应力.结果表明,当载荷大于临界值后微裂纹就从压痕顶端形核、扩展;与此相应,在载荷-位移曲线上出现位移突变平台.根据平台载荷计算出压痕裂纹形核的临界应力σc=3.4 GPa;利用裂纹的长度计算出SnO2纳米带的断裂韧性为0.028-0.066 MPa·m1/2,其平均值为KIC=0.044 MPa·m1/2,它比其它块体脆性材料的断裂韧性小一个数量级.实验测出SnO2纳米带的硬度H=6.25 GPa和弹性模量E=86.7 GPa.

关键词: SnO2纳米带 , 纳米压痕 , 硬度 , 断裂韧性 , 裂纹形核临界应力

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