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正交投影用于多波长色谱重叠峰分析

陈迪钊 , 崔卉

色谱 doi:10.3321/j.issn:1000-8713.2000.02.002

将正交投影分辨(OPR)技术用于多波长色谱重叠峰分辨,当色谱峰中最大重叠度小于或等于波长数时,用这一方法能从多波长色谱重叠峰中获得完全真解.基于双波长色谱分析,提出了一种新的色谱重叠峰中背景校正、组分数和纯组分信号区确定以及各组分重叠情况的分析方法,即双波长特征信息分析(DWCI).该法被成功的用于三组分双峰和双组分单峰重叠色谱的分析.

关键词: 多波长色谱 , 正交投影 , 重叠峰分辨 , 双波长特征信息分析