李方华
稀有金属材料与工程
本文指出,借助高分辨电子显微镜观察到的显微像并不总直观地反映晶体结构,对于在特定离焦条件下拍摄到的结构像,其分辨率还要受显微镜分辨本领的限制,只有超高压高分辨电子显微镜才能直接给出原子分辨率的结构像.文章介绍了衍射晶体学与高分辨电子显微学相结合起来的优越性,和据此发展的电子晶体学图像处理技术,用此技术可以实现"从头"测定晶体结构,并能把中等电压电子显微镜得到的结构像分辨率约提高1倍,达到原子分辨率.文中举例介绍了此技术在测定晶体结构和缺陷中的应用.
关键词:
高分辨电子显微学
,
电子晶体学
,
晶体结构
,
晶体缺陷
,
图像处理
汪新星
,
吴秀玲
,
刘卫平
,
孙俊英
材料导报
对高分辨电子显微像图像处理技术进行了比较详细的分类.简要分析了在测定晶体结构的过程中,高分辨电子显微像与图像处理技术相结合的必要性.论述了尝试法、出射波重构法和解卷技术3种主要的图像处理方法,介绍了该类图像处理技术应用于材料学研究中的典型事例,并讨论了其应用范围、前景及其局限性.
关键词:
高分辨电子显微学
,
图像处理
,
晶体结构
王怀斌
,
李方华
金属学报
本文介绍了场发射高分辨电子显微像的图像处理原理,用300 kV场发射电子显微镜的参数模拟了GaN完整晶体和缺陷晶体结构模型的显微像.经过处理的显微像上能够分辨间距为0.112nm的Ga和N原子,并能显示N原子空位.
关键词:
GaN
,
null
,
null
