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金蔚青 , 潘志雷 , 程宁 , 袁晖
无机材料学报
晶体生长边界层模型起源于流体动力学边界层模型,但两者又不完全相同.晶体生长边界层模型有两方面的含义:(1)在固-液界面处的、垂直于界面的、由杂质和组份构成的质量流决定晶体生长速度;(2)在界面附加溶液一侧的质量浓度流,其浓度分布是决定界面稳定性的基本参数.特征扩散长度是表征垂直于界面的质量流的一个重要参数.对熔体晶体生长而言,理论估计此值在0.04~0.4cm之间.光学实时观察法晶体生长技术是一种研究晶体生长过程的新颖方法.它能有效地区分扩散-平流和扩散-对流两种不同的生长状态,其实验测得的KNbO3熔体生长的特征扩散长度值为0.01~0.1cm之间.应用此方法实时观察到胞状结构的形成和发展,也证实了界面附近的质量浓度流是决定界面稳定性的一个重要参数.
关键词: 边界层效应 , melt growth , optical in-situ observation method , characteristicdiffusion distance , cellular interface structure