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Cu/AuSn20/Ni焊点界面组织及剪切强度

韦小凤 , 王日初 , 李海普 , 彭超群

功能材料

采用回流焊技术制备Cu/AuSn20/Ni(质量百分比)焊点,通过扫描电子显微镜及电子万能试验机分析焊点在300℃钎焊后的界面组织及剪切强度。结果表明,Cu/AuSn20/Ni焊点在300℃钎焊较短时间时,AuSn20焊料形成(Au5Sn+AuSn)共晶组织,Cu/AuSn20上界面形成胞状的ζ-(Au,Cu)5Sn层;AuSn20/Ni下界面形成片状(Ni,Au)3Sn2金属间化合物(IMC);随着钎焊时间的延长,基板中Cu、Ni原子不断往焊料扩散,焊料成分发生变化,冷却后焊点的共晶组织消失,上界面形成ζ(Cu)固溶体,下界面的片状(Ni,Au)3Sn2不断长大形成连续IMC层,焊点组织最终由℃(Cu)固溶体和(Ni,Au)3Sn2IMC组成。钎焊接头的剪切强度随钎焊时间延长而增大,但是增大幅度较小。

关键词: Cu/AuSn20/Ni焊点 , 界面反应 , 金属间化合物(IMC) , 剪切强度

老化退火中Cu/AuSn20/Ni焊点的组织演变

彭健 , 王日初 , 韦小凤 , 刘锐 , 王檬

材料热处理学报

研究Cu/AuSn20/Ni焊点在120、160和200℃下老化退火时金属间化合物(IMC)层的组织形貌、生长动力学以及焊点剪切性能.结果表明:在老化退火过程中,焊点Cu/AuSn20上界面形成AuCu和Au(Cu,Sn)复合IMC层,Ni/AuSn20下界面形成(Ni,Au,Cu)3Sn2四元IMC层;IMC层厚度随着退火时间延长而逐渐增大,其生长动力学分析表明AuCu层和Au(Cu,Sn)层的生长机制为体积扩散,而(Ni,Au,Cu)3Sn2层的生长机制为反应扩散;IMC层的长大速率随温度升高而增大;焊点的室温剪切强度随AuCu和Au(Cu,Sn)层厚度增大而大幅降低,剪切断裂发生在Cu/AuSn20界面.

关键词: Cu/AuSn20/Ni焊点 , 老化退火 , 生长动力学 , 金属间化合物(IMC) , 剪切强度

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