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氨化Si基Ga2O3/Al2O3制备GaN薄膜

魏芹芹 , 薛成山 , 孙振翠 , 曹文田 , 庄惠照

稀有金属材料与工程

研究了Ga2O3/Al2O3膜反应自组装制备GaN薄膜.首先利用磁控溅射法在硅衬底上制备Ga2O3/Al2O3膜,再将Ga2O3/Al2O3膜在高纯氨气气氛中氨化反应得到了GaN薄膜.用X射线衍射(XRD),X光光电子能谱(XPS)、扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)和荧光光谱(PL)对样品进行结构、组分、形貌和发光特性的分析.测试结果表明:用此方法得到了六方纤锌矿结构的GaN晶体膜.

关键词: GaN , Ga2O3/Al2O3膜 , 氨化 , 磁控溅射

氨化硅基Ga2O3/Al2O3制备GaN薄膜性质研究

魏芹芹 , 薛成山 , 孙振翠 , 庄惠照 , 王书运

稀有金属材料与工程

研究了Ga2O3/Al2O3膜反应自组装制备GaN薄膜.首先利用磁控溅射法在硅衬底上制备Ga2O3/Al2O3膜,再将Ga2O3/Al2O3膜在高纯氨气气氛中氨化反应得到GaN薄膜.用傅里叶红外谱仪(FTIR),X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)对试样进行结构、组分和形貌分析.通过分析薄膜各方面的性质,得出了用此方法制备氮化镓薄膜的Al2O3缓冲层最佳的厚度为15 nm左右,最佳氨化条件是在900℃下氨化15 min.

关键词: GaN , Ga2O3/Al2O3膜 , 氨化 , 磁控溅射

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