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氨化温度对氨化Ga2O3/Al膜制备GaN纳米结构材料的影响

庄惠照 , 胡丽君 , 薛成山 , 薛守斌

功能材料

采用磁控溅射的方法在Si(111)衬底上溅射沉积了Ga2O3/Al膜,并通过氨化的方法在Si(111)衬底上获得了GaN纳米结构材料,研究了不同的氨化温度对生成GaN纳米结构材料的影响.对样品进行了傅立叶红外吸收(FTIR)、X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)以及高分辨电镜(HRTEM)测试,分析了不同温度对GaN样品的结构、组分和形貌等特性的影响.结果表明,用该方法在950℃的氨化温度下得到了大量的六方GaN纳米棒.

关键词: Ga2O3/Al膜 , GaN 纳米棒 , 氨化 , 磁控溅射

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