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H2流量对直流磁控溅射制备a-Si∶H薄膜微观结构及光学性能的影响

乔泳彭 , 蒋百灵 , 鲁媛媛 , 牛毅 , 张岩

人工晶体学报

采用直流磁控溅射法在不同H2流量的条件下制备了a-Si∶H薄膜,研究了H2流量对薄膜微观结构以及光学性能的影响.结果表明:随H2流量的增加,a-Si∶H薄膜的沉积速率有所下降,但其原子排列的有序度上升,并出现了细小的纳米晶粒,使得薄膜的无序结构得到了一定改善.同时,薄膜的光学性能也表现出明显变化,其中透过率持续上升,而光学带隙则呈现出先增大后减小的趋势.最终得到制备a-Si∶H薄膜的最优H2流量为15 sccm.

关键词: 直流磁控溅射 , H2流量 , a-Si∶H薄膜 , 光学性能

磁控溅射技术室温生长氢化ZnO∶Ga薄膜及其特性研究

王斐 , 陈新亮 , 张翅 , 张德坤 , 魏长春 , 黄茜 , 张晓丹 , 赵颖 , 耿新华

人工晶体学报

采用直流脉冲磁控溅射方法,在室温下生长氢化Ga掺杂ZnO薄膜(GZO/H),并通过湿法后腐蚀技术获得绒面结构.研究了室温下H2流量对薄膜结构、光电性能及表面形貌的影响.实验表明,氢化GZO(GZO/H)薄膜具有良好的(002)晶面择优取向生长,引入适当流量的H2可以有效提高薄膜的电学特性,GZO/H薄膜具有更低的电阻率以及较高的迁移率和载流子浓度.当通入H2流量为6 sccm时,薄膜电阻率为6.8 ×10-4 Ω·cm,Hall迁移率达34.2 cm2/Ⅴ·s,制备的GZO/H薄膜可见光区域平均透过率优于85%.此外,研究了H2流量对湿法腐蚀后绒面GZO/H薄膜表面形貌的影响,提出了一种薄膜绒面结构形成过程模型.

关键词: 脉冲磁控溅射 , 氧化锌 , 镓掺杂 , H2流量 , 绒面结构

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