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Li2O-V2O5-SiO2薄膜结构与电化学性能研究

蔡羽 , 赵胜利 , 文九巴 , 刘先年

功能材料

采用355nm脉冲激光沉积(PLD)法以Li6.16V0.61Si0.39O5.36为靶制备了Li2O-V2O5-SiO2薄膜.由X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、表面轮廓、交流阻抗(ACI)、直流极化(DCP)等方法对薄膜的形貌、结构及电化学性能进行表征,讨论了Li2O-V2O5-SiO2薄膜电化学性能与其结构的关系.结果表明,该薄膜是一种无针孔和裂缝、厚度均匀、组成致密的非晶态结构;Li2O-V2O5-SiO2薄膜离子电导率与温度符合Arrhenius关系,离子迁移数接近1.0(tion>99.999%),是一种性能良好的离子导体材料;Li2O-V2O5-SiO2薄膜室温时离子电导率达4.0×10-7S/cm,而电子电导率仅为10-11~10-12S/cm,可作为电解质材料用于全固态薄膜锂电池.

关键词: 无机非金属材料 , Li2O-V2O5-SiO2 , 脉冲激光沉积 , 薄膜 , 结构 , 电化学性质

脉冲激光沉积技术制备Li2O-V2O5-SiO2薄膜

赵胜利 , 文九巴 , 杨继斌 , 秦启宗

材料热处理学报 doi:10.3969/j.issn.1009-6264.2005.06.005

采用355nm脉冲激光沉积(PLD)技术,以Li6.16V0.61Si0.39O5.36为靶材制备Li2O-V2O5-SiO2薄膜,考察了反应气氛压强、激光能量密度、基片温度等对薄膜结构和性质的影响.结果表明,随着基片温度升高及激光能量密度增大Li2O-V2O5-SiO2薄膜更致密,且室温离子电导率随之增大.在O2压强6.7Pa、激光能量密度12J/cm2和基片温度300℃条件下制备了室温离子电导率为4×10-7S/cm、离子迁移数接近1.O(tion>99.99%)、厚度均匀、无针孔和裂缝的非晶态Li2O-V2O5-SiO3薄膜.

关键词: 电解质 , Li2O-V2O5-SiO2 , 薄膜 , 锂电池 , PLD

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