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肖兴成 , 宋力昕 , 江伟辉 , 彭晓峰 , 胡行方
无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2000.04.024
本文利用射频磁控溅射工艺制备了SiCN薄膜,研究了基本工艺参数如溅射功率、N分压对薄膜沉积和光学性能的影响. 研究结果表明:溅射制备的薄膜中形成了复杂的网络结构,膜中三元素Si、C和N两两之间形成了共价键. N分压的提高降低了薄膜的沉积速率. N流量的提高使光学带隙增大. 溅射功率的提高使薄膜的沉积速率提高,但使得光学带隙减小
关键词: SiCN薄膜 , 磁控溅射 , FTIR , 光学带隙