欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

  • 论文(1)
  • 图书()
  • 专利()
  • 新闻()

U-Ta合金中Ta含量的EDXRF法测定

杨锁龙 , 余春荣 , 杨光文 , 高戈 , 吴伦强

稀有金属材料与工程

介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定U-Ta合金中Ta含量的分析方法.该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Ta含量.该方法简便、快速、准确,适用于Ta含量在1%~6%范围的U-Ta合金样品的Ta含量测定.对Ta含量为1.5%的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.6%; Ta含量为5%的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.3%.

关键词: U-Ta合金 , X射线荧光光谱分析 , Ta含量

出版年份

刊物分类

相关作者

相关热词