陈英
,
刘宝生
,
岑小龙
稀土
doi:10.3969/j.issn.1004-0277.2010.01.009
用溶胶-凝胶法制备了La或Ce改性的0.3%Ni/TiO2(即La-Ni/TiO_2或Ce-Ni/TiO_2),考察了La-Ni/TiO_2或Ce-Ni/TiO_2在催化降解甲基橙水溶液过程中的重复利用性能,并用XRD、N_2吸附-脱附以及XPS等手段对催化剂进行了表征分析.研究表明,适宜La和Ce掺杂量(La/Ti、Ce/Ti摩尔比)分别为0.15%和0.1%,适宜焙烧温度为400℃.在酸性条件下(pH=3),La-Ni/TiO_2和Ce-Ni/TiO_2与Ni/TiO2光降解甲基橙的能力相当,但La或Ce掺杂使Ni/TiO_2催化剂的重复使用能力提高.催化剂上存在低结合能的低价钛离子(如Ti~(3+)),低价钛离子的含量和结合能大小是衡量催化剂光催化降解活性的重要因素.可能是La或Ce使催化剂在使用过程中低价钛离子得到较好保留,从而使催化剂活性得到较好维持,催化剂重复使用性能提高.
关键词:
Ni/TiO_2光催化剂
,
La
,
Ce
,
重复使用性能
,
XRD
,
XPS
,
N_2吸附-脱附
,
甲基橙
邬小鹏
,
傅竹西
功能材料
采用射频磁控溅射用x=0.00～0.45的MgxZn1-xO陶瓷靶在Si（100）和石英衬底上生长一系列的MgxZn1-xO薄膜。用XRD、XPS、透射谱和光电导谱对样品进行表征。结果表明用MgxZn1-xO薄膜在x≤0.325时具有单一（002）取向的六方结构,其禁带宽度Eg随x增加而增大,在薄膜表面入射光能量大于禁带宽度时有光电响应,并且在x=0.325时得到了禁带宽度为4.90eV的MgxZn1-xO薄膜。在x≥0.40时出现立方相结构,禁带宽度有所减小,说明此时已为混相薄膜。
关键词:
MgxZn1-xO
,
XRD
,
XPS
,
透射谱
,
光电导谱
邹凯
,
李蓉萍
稀土
doi:10.16533/J.CNKI.15-1099/TF.201503007
采用化学水浴法制备了结构为CdS/CdS的薄膜,并结合电子束真空蒸发法,在两层CdS之间沉积一层Dy单质制备了结构为CdS/Dy/CdS的Dy掺杂薄膜.XRD和SEM测试表明,未掺杂的薄膜为沿(111)晶面择优生长的立方相闪锌矿结构,但是含有Dy掺杂层的CdS薄膜则为立方相和六方相的混合结构,并且掺Dy后CdS的晶粒尺寸和晶格常数变大.XPS分析表明,两种样品均富Cd,掺Dy有助于降低薄膜中O和C的含量,进而抑制薄膜中氧化物的形成;未掺杂时薄膜表面和内部Cd、S的原子比分别为1∶0.63和1∶0.71,掺Dy后分别提高到1∶0.81和1∶0.83,更接近CdS的化学计量比,而且组分更加均匀.
关键词:
掺Dy-CdS
,
化学水浴法
,
电子束蒸发
,
结构
,
XPS
张化宇
,
刘良学
,
马洪涛
,
刘凡新
,
刘会良
,
王东
材料科学与工程学报
doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2006.05.010
采用FCVA工艺成功制备了ta-C薄膜,采用ECR-CVD工艺对部分ta-C薄膜试样进行氮等离子体处理,制备了ta-C:N薄膜.对两种薄膜的表面粗糙度与元素含量、沉积工艺参数之间的关系进行了研究.通过AFM对薄膜表面粗糙度进行了分析,通过XPS对薄膜的元素含量进行了分析.试验结果显示,沉积条件对薄膜厚度和元素含量具有明显的影响.对ta-C薄膜进行氮等离子体处理后,其表面粗糙度有一个明显的起伏变化.研究结果表明,氮能改变DLC薄膜表面的粗糙度.元素含量也随着薄膜的厚度变化而变化.
关键词:
ta-C:N
,
AFM
,
XPS
,
粗糙度
钟盛文
,
陈鹏
,
姚文俐
,
梅文捷
,
胡经纬
,
金柱
,
刘熙林
,
王春香
功能材料
doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.增刊(Ⅰ).031
采用共沉淀-高温固相法合成正极材料LiNi0．7 Mn0．3 O 2,利用 X 射线衍射分析(XRD)表征其结构、扫描电子显微镜(SEM)表征其形貌、X 射线光电子能谱(XPS)表征其价态,最终确定了该材料最佳烧成温度为820℃.研究表明,该温度下合成的 LiNi0．7 Mn0．3 O 2具有典型的α-NaFeO 2型层状结构,颗粒形貌呈类球形且分布均匀；XPS 数据表明,LiNi0．7 Mn0．3 O 2中的 Ni 主要以＋3价形态存在,Mn 主要以＋4价形态存在.室温条件下以0．2 C 倍率在2．75~4．35 V 的电压范围内充放电,首次放电比容量高达188．9 mAh/g,70次循环后容量保持率为95．2％.
关键词:
锂离子电池
,
LiNi0.7 Mn0.3O2
,
XPS
,
烧结温度
,
无钴
赵瑞涛
,
李晓刚
,
程学群
,
李成涛
,
马明娟
,
袁佳梅
表面技术
doi:10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2015.03.001
目的：研究变形量对690合金电化学行为的影响。方法采用动电位极化、电化学阻抗和高温高压浸泡实验,结合扫描电子显微镜( SEM)、X射线光谱仪( EDX)和X射线光电子能谱( XPS),研究不同变形量的690合金传热管在核电模拟液中的腐蚀行为。结果在常温常压下,50％变形量试样的自腐蚀电位比25％变形量试样正140 mV,维钝电流密度显著降低,阻抗模值高出约10倍。高温高压下浸泡后, XPS分析显示,50％变形量试样表面腐蚀产物膜中的Cr2 O3含量远高于25％变形量试样,其富Cr内层致密,氧化层更厚。结论50％变形量的690合金表面形成的钝化膜及腐蚀产物膜对基体的保护作用更强。
关键词:
690合金
,
高温高压
,
变形量
,
电化学
,
XPS
