唐利强
,
刘军
,
陈志刚
,
吴燕杰
稀有金属材料与工程
采用射频反应磁控溅射法在硬质合金衬底上沉积了CNx薄膜和CNx/TIN复合薄膜.薄膜的结构和元素成分用傅里叶变换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)测试.红外吸收光谱说明薄膜中碳、氮原子结合成的化学键有C-N,C=N和CIN,另外还存在少量的N-H和C-H键;X射线光电子能谱分析证明沉积中间层Tin的样品结合能位移增大,其中氮碳原子成键多,从而提高了样品的耐磨性能.
关键词:
CNx薄膜
,
硬质合金
,
X光电子能谱
,
摩擦性能
侯仰龙
,
韦永德
中国稀土学报
通过熔盐交换法合成了NdCl3-FeCl3-GIC, 采用X射线电子能谱(XPS)分析插入剂在石墨层间的存在形式, 并测定了试样中Nd, Fe, Cl和C的相对含量. NdCl3-FeCl3-GIC中Fe 2p的结合能为711.20～710.3 eV, Nd 3d的结合能为983.20～983.08 eV, 并发现Fe在石墨层间以Fe3+, Fe2+形式存在.
关键词:
稀土
,
氯化钕
,
石墨层间化合物
,
X光电子能谱
赵国魏
,
董涛
,
陈亚芍
膜科学与技术
doi:10.3969/j.issn.1007-8924.2006.06.018
利用Ar等离子体射频放电,在不同功率和时间下处理高密聚乙烯(HDPE),通过X光电子能谱(XPS)及化学诱导法进行测定和分析处理后样品表面引入含氧基团的性质.结果表明:Ar等离子体处理后表面存在含氧基团,且随着表面深度不同,氧含量有所变化,在近表面氧含量较高.进一步分析表明:经Ar等离子体处理的高密聚乙烯表面羟基(-OH)和羧基(-COOH)均存在,且表面-COOH的含量大于-OH的含量.
关键词:
高密聚乙烯
,
X光电子能谱
,
化学诱导法
,
羧基
,
羟基
张勇
,
陈永亮
,
崔雅静
,
赵勇
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2008.01.004
采用XPS方法对BaPb1-xBixO3超导体以及Hg掺杂BaPb1-xBixO3超导体进行了对照研究,结果表明当Hg取代Pb后,位于18eV和22eV的价带的强度发生变化并与样品的超导转变温度相关联,O1s和Pb4f谱峰也随Hg掺入而发生位移,说明随Hg的掺入BaPb1-xBixO3超导体的化学环境发生改变.
关键词:
X光电子能谱
,
超导体
,
Hg掺杂
,
BaPb0.75Bi0.25O3
戴长松
,
王殿龙
,
袁国辉
,
胡信国
稀有金属材料与工程
研究了酸性化学镀镍溶液的贵金属离子、重金属离子光亮剂对镀层硬度、结合力、孔隙率以及耐蚀性的影响,并通过AFM,XRD和XPS,分析光亮剂对镀层组织结构的影响.结果表明:贵金属离子光亮剂能明显提高EN镀层的耐蚀性,而重金属离子光亮剂降低了EN镀层的耐蚀性;两种光亮剂都能降低镀层的表面粗糙度,使构成镀层胞状物变小,并使镀层的非晶结构更加明显,镀态镀层表面Ni以Ni原子和Ni2+离子形式存在,P以负价离子和PO43-离子的形式存在,光亮剂的加入利于镀层表面形成磷酸镍的保护膜.
关键词:
化学镀镍
,
光亮剂
,
表面粗糙度
,
原子力显微镜
,
X光电子能谱
罗文博
,
张鹰
,
李金隆
,
朱俊
,
艾万勇
,
李言荣
功能材料
利用激光分子束外延(LMBE)方法在Si(100)基片上直接生长BaTiO3(BTO)铁电薄膜.通过俄歇电子能谱(AES),X光电子能谱(XPS)等分析手段系统研究了在Si基片上直接生长BTO铁电薄膜过程中的界面扩散现象.根据研究得到的BTO/Si界面扩散规律,采用一种新型的"温度梯度调制生长方法"减小、抑制BTO/Si界面互扩散行为,实现了BTO铁电薄膜在Si基片上的选择性择优定向生长,为在Si基片上制备具有原子级平整度的择优单一取向的BTO铁电薄膜奠定了基础.
关键词:
界面扩散
,
钛酸钡
,
硅
,
俄歇电子能谱
,
X光电子能谱
