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氧分压对直流磁控溅射制备 ZnO:Ga透明导电薄膜特性的影响

马全宝 , 叶志镇 , 何海平 , 朱丽萍 , 张银珠 , 赵炳辉

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2007.01113

通过直流反应磁控溅射法在玻璃衬底上制备了掺镓ZnO(ZnO:Ga)透明导电薄膜, 研究了氧分压对ZnO:Ga透明导电薄膜结构和电光学性能的影响. X射线衍射结果表明所制备的薄膜具有c轴择优取向的六角多晶结构. ZnO:Ga透明导电薄膜的晶粒尺寸强烈依赖于氧分压的大小, 随着氧分压的增大薄膜的晶粒尺寸先增大后减小, 在氧分压为0.30 Pa时沉积的ZnO:Ga薄膜半高宽最小, 晶粒尺寸最大. 薄膜的电阻率随着氧分压的增大先减小后增大, 沉积薄膜的最低电阻率可达3.50×10-4Ω·cm. 此外, 所有ZnO:Ga薄膜在可见光范围内的平均透射率均超过90%.

关键词: ZnO:Ga , transparent conductive oxide film , magnetron sputtering , oxygen partial pressure , electrical and optical properties

薄膜厚度对ZnO:Ga透明导电膜性能的影响

余旭浒 , 马瑾 , 计峰 , 王玉恒 , 张锡健 , 程传福 , 马洪磊

功能材料

采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上低温制备出镓掺杂氧化锌(ZnO:Ga)透明导电膜,研究了薄膜的结构、电学和光学性质随薄膜厚度的变化关系.制备的ZnO:Ga是具有六角纤锌矿结构的多晶薄膜,最佳择优取向为(002)方向.随着薄膜厚度的增加,衍射峰明显增强,晶粒增大.薄膜的最低电阻率为3.9×10-4Ω·cm,在可见光范围内平均透过率达到了85%以上.

关键词: 磁控溅射 , ZnO:Ga , 薄膜厚度 , 光电性质

氧分压对直流磁控溅射制备ZnO:Ga透明导电薄膜特性的影响

马全宝 , 叶志镇 , 何海平 , 朱丽萍 , 张银珠 , 赵炳辉

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324x.2007.06.019

通过直流反应磁控溅射法在玻璃衬底上制备了掺镓ZnO(ZnO:Ga)透明导电薄膜,研究了氧分压对ZnO:Ga透明导电薄膜结构和电光学性能的影响.X射线衍射结果表明所制备的薄膜具有c轴择优取向的六角多晶结构.ZnO:Ga透明导电薄膜的晶粒尺寸强烈依赖于氧分压的大小,随着氧分压的增大薄膜的晶粒尺寸先增大后减小,在氧分压为0.30 Pa时沉积的ZnO:Ga薄膜半高宽最小,晶粒尺寸最大.薄膜的电阻率随着氧分压的增大先减小后增大,沉积薄膜的最低电阻率可达3.50×10-4Ω·cm.此外,所有ZnO:Ga薄膜在可见光范围内的平均透射率均超过90%.

关键词: ZnO:Ga , 透明导电氧化物薄膜 , 磁控溅射 , 氧分压 , 光电特性

真空退火对溅射淀积ZnO:Ga透明导电膜性能的影响

马瑾 , 余旭浒 , 计峰 , 王玉恒 , 张锡健 , 程传福 , 马洪磊

稀有金属材料与工程

采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上低温制备出了镓掺杂氧化锌(ZnO:Ga)透明导电膜,研究了真空退火对薄膜结构、电学和光学特性的影响.结果表明:真空退火后,薄膜结构得到明显改善,电阻率由退火前的1.13×10-3Ω·cm下降到5.4×10-4Ω·cm,在可见光区的平均透过率也由未退火前的83%提高到退火后的90%以上.

关键词: 磁控溅射 , ZnO:Ga , 真空退火

ZnO:Ga透明导电膜的低温制备及特性研究

余旭浒 , 马瑾 , 计峰 , 王玉恒 , 宗福建 , 张锡健 , 程传福 , 马洪磊

功能材料

采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上低温制备出高质量的镓掺杂氧化锌(ZnO:Ga)透明导电膜,对薄膜的结构和光电特性以及制备参数对薄膜性能的影响进行了研究.制备的ZnO:Ga是具有六角纤锌矿结构的多晶薄膜,最佳择优取向为(002)方向.薄膜的最低电阻率达到了3.9×10-4Ωcm,方块电阻~4.6Ω/□,薄膜具有良好的附着性,在可见光区的平均透过率达到90%以上.

关键词: 磁控溅射 , ZnO:Ga , 光电特性

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