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Co掺杂对ZnO晶体中光生电子瞬态过程的影响

韦志仁 , 强勇 , 彭翔宇 , 高平 , 董国义

人工晶体学报

采用气相反应制备了ZnO和ZnO∶Co微晶,并通过热释光研究了材料中的电子陷阱能级(施主能级),采用微波介电谱研究了材料的光生电子瞬态过程.发现纯ZnO热释光谱有两个峰,分别为-183 ℃和-127 ℃,说明存在两个电子陷阱能级;而ZnO∶Co中热释光信号很弱,只有纯ZnO的十分之一.微波介电谱研究表明,由于电子陷阱对导带电子的驰豫作用,纯ZnO材料导带光电子的衰减为一级指数过程,寿命为802 ns.ZnO∶Co微晶体的最大微波介电谱强度低于纯ZnO晶体的五分之一,电子陷阱密度较小,其光生电子快速衰减,过程仅为10~20 ns.结果说明Co掺杂具有明显的抑制电子陷阱能级生成的作用.

关键词: ZnO , 电子陷阱 , 掺杂 , 光生电子

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