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用于裂变碎片质量测量的MCP和Au-Si SBD飞行时间探测系统

孟庆华 , 王涛峰 , 朱丽萍 , 王黎明 , 韩洪银

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.33.04.442

为了能很好地鉴别碎片质量,建立一个好的飞行时间测量方法是十分必要的.阐述了建立用于裂变碎片质量测量的微通道板(MCP)和金硅面垒探测器(SBD)飞行时间探测系统.对于80 μg/cm2厚的碳膜,241Am的α粒子的探测效率约为39%,252Cf(sf)裂变碎片的探测效率约为98%.在动能为78 MeV条件下,对252Cf(sf)重裂变碎片(138~148 u)得到的时间分辨为(224.1土6.1)ps;在动能为102 MeV条件下,对252Cf(sf)轻裂变碎片(101~111 u),得到的时间分辨为(154.5土5.8) ps.

关键词: 微通道板 , 飞行时间法 , 质量测量 , 自发裂变

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