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薄壁快脉冲~(252)Cf裂变电离室的研制及性能测试

顾先宝 , 黎光武 , 张文慧 , 张刚 , 陈宇

原子核物理评论

介绍了用于中子探测器效率刻度的薄壁快脉冲~(252)Cf裂变电离室.在用飞行时间法测量中子能谱时,该裂变电离室能够给出~(252)Cf裂变中子发射时刻信号,输出脉冲上升时间约为5.5 ns,电离室由厚度为0.15 mm的不锈钢构成.测试结果表明,对裂变碎片的探测效率为99.2%,α粒子脉冲幅度和碎片脉冲幅度可清晰分开.

关键词: 效率刻度 , ~(252)Cf裂变电离室 , 飞行时间法

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