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光干涉在光学元件面形测量中的应用

王占芹 , 于瀛洁

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2006.02.012

干涉计量技术由于能进行全场测量、非接触、精度和灵敏度高等特点在生产和研究中得到了广泛的应用.很多情况下,被测物理量和光学位相直接相关.本文从基本概念出发,介绍了光、光程、光程差和位相,对应用位相测量光学元件面形的原理做了详细的阐述,并简要列举了现在求取位相常用的方法:时间相移法、空间相移法、载波条纹的Fourier变换法和载波条纹的时域法.

关键词: 光程差 , 位相 , 干涉 , 相移

液晶波前校正器动态位相响应特性研究

芦永军 , 曹召良 , 曲艳玲 , 王海萍

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20122706.0730

为了对畸变波前进行精确校正,研究了液晶波前校正器在不同灰度级之间的动态位相响应特性,准确确定其响应时间.首先给出液晶波前校正器的响应时间和位相变化的检测方案.然后检测了液晶波前校正器在0和255灰度级之间的上升和下降时间,分别为7 ms和11 ms.在保证校正精度的条件下,对该位相曲线采取λ/10的误差截断,使上升和下降时间分别减少到4 ms和6.8 ms.最后,研究了各灰度级依次上升到255和从255再以次回落到各灰度级的动态响应时间.结果表明,各灰度级的上升时间在2~5.2 ms之间变化,下降时间在3.66~8.74 ms之间变化,且无论是上升还是下降,150和255灰度级之间转换速度最快,在255灰度级邻近的灰度响应速度最慢,且响应时间长于0和255灰度之间的响应时间.因此,在波前校正中,须以255灰度邻近的灰度级中最长的响应时间作为液晶波前校正器的响应时间,以确保波前校正精度.

关键词: 液晶波前校正器 , 位相 , 响应时间 , 动态

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