李元庆
,
付绍云
绝缘材料
doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2005.05.008
介绍了 77K下薄膜状绝缘材料电气强度的测试方法,研究了聚酰亚胺 /蒙脱土、聚酰亚胺 /云母、聚酰亚胺 /SiO2 三个系列的低温电气强度.结果表明:前两个系列填料对电气强度的影响趋势相同,均存在最佳填料含量,聚酰亚胺 /蒙脱土电气强度最佳可达 215.77MV/m;对于聚酰亚胺 /SiO2系列,电气强度比纯 PI薄膜略有下降,且含量较高时下降明显,但仍然可以满足应用的要求.
关键词:
纳米杂化材料
,
聚酰亚胺
,
蒙脱土
,
聚酰亚胺
,
云母
,
氧化硅
,
低温电气强度
