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偏铌酸铅陶瓷低频内耗的研究

贺连星 , 李承恩 , 陈廷国 , 刘卫 , 朱震刚 , 水嘉鹏

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2000.05.010

用低频倒置扭摆对改性偏铌酸铅?铁电陶瓷的内耗进行了研究. 在新加工的样品中发现了六个内耗峰,分别位于70C(P1峰)、90C(P2峰)、200C(P3峰)、260C(P4峰)、430C(P5峰)和510C(P6峰)处. 对引起P3、P1、P2和P4峰的物理机制进行了详细探讨. 分析结果表明,P3峰的本质是一宽化的Debye弛豫内耗峰,相应的激活能和指前因子分别为1.01eV和2.410-14s. ?它源于氧空位与畴壁的相互作用. P1、P2和P4峰与试样的切割加工密切相关,可归结为点缺陷与位错的交互作用.

关键词: 内耗 , 偏铌酸铅陶瓷 , 畴壁 , 氧空位

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