杨君体
,
魏廷存
,
魏晓敏
,
李博
液晶与显示
doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2008.03.011
基于March算法的存储器内建自测试电路能够获得很高的故障覆盖率,但在测试小规模的存储器时暴露出了面积相对比较大的缺点.针对大屏幕Timing Controller芯片"龙腾TC1"中4块640×18 bit SRAM"按地址递增顺序连续进行写操作"的工作特点,提出了一种新的存储器内建自测试方法.该方法按照地址递增顺序向存储器施加测试矢量,避免了直接采用March C算法所带来的冗余测试,简化了内建自测试电路,大大减少了由管子的数量和布线带来的面积开销,可达到March C+算法相同的"测试效果".
关键词:
TFT-LCD
,
时序控制器
,
存储器
,
内建自测试
,
March C
