王喜忠
,
王亮忠
,
汪悦
,
王振清
物理测试
doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2007.06.009
基于STC89C52和Atmel89C4051的双芯片系统,通过测试材料在不同温度下和不同振动情况下的自由衰减曲线,经数值处理得到材料的动态力学性能.实验过程实现了计算机对设备的控制和数据采集,经处理可以获得材料在全温度范围内的损耗、弹性模量和损耗模量等.本系统易操纵,自动化程度高,设备体积小.
关键词:
双芯片系统
,
动态力学热分析仪(DMTA)
,
数值测控系统
