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V2O3粉末金属-绝缘体相变的太赫兹光谱分析

唐伟捷 , 顾翔 , 吴敬波 , 金飚兵

低温物理学报

为了观察V2O3粉末由绝缘体态到金属态的相变过程,我们用太赫兹时域光谱仪(Terahertztime-domainspectroscopy,简称THz-TDS)技术对V2O3混合粉末样品在低温下进行测量.通过分析V2O3样品在太赫兹频段的幅值和相位信息,得到样品的折射率、介电常数等光学参数.我们用Maxwell-Gamett有效媒质理论(Effectiverne—diumtheory,简称EMT)联系Boltzmann函数来描述样品的介电特性.计算所得结果与实验吻合很好,进一步验证了在相变温度附近V2O3粉末中的金属域部分体积分数随温度升高而逐渐增加,导致了相变的发生.

关键词: V2O3相变 , 太赫兹时域光谱技术 , 太赫兹光学参数 , 有效媒质理论

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