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石墨衬底上具有(220)/(400)择优取向多晶硅薄膜的制备及性质

辛雅焜 , 陈诺夫 , 吴强 , 白一鸣 , 陈吉堃 , 何海洋 , 李宁 , 黄添懋 , 施辉伟

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.04.031

在石墨衬底上分别制备了具有(220)和(400)择优取向的多晶硅薄膜.首先利用磁控溅射技术直接在石墨衬底上制备非晶硅薄膜层,以及先制备 ZnO 过渡层,再在 ZnO 过渡层上制备非晶硅薄膜层;然后采用快速退火法对非晶硅薄膜晶化,使其形成多晶硅薄膜籽晶层.XRD 测试表明,未引入 ZnO 过渡层的多晶硅薄膜籽晶层具有高度(220)择优取向,而引入 ZnO 过渡层的多晶硅薄膜籽晶层具有高度(400)择优取向;最后在多晶硅籽晶层上通过对流辅助化学气相沉积(CoCVD)制备多晶硅薄膜.根据 SEM、XRD、拉曼测试表明,多晶硅薄膜的性质延续了多晶硅籽晶层的性质,未引入 ZnO 过渡层的样品,具有高度(220)择优取向.引入 ZnO 过渡层后的样品,具有高度(400)择优取向,(400)择优取向的转变有利于后续多晶硅薄膜太阳电池的制作.同时对 Si(220)和 Si (400)择优取向的形成原因做了初步分析.

关键词: 多晶硅薄膜 , 石墨衬底 , 籽晶层 , 氧化锌 , 择优取向 , 对流辅助化学气相沉积

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