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我国飞秒超快激光法制备超小尺寸银纳米孔取得进展

中国材料进展

尽管光学衍射极限极大地限制了纳米结构的光学方法制备,但是这方面的努力和进步一直都没有停止过。在这一进程中超快激光起到了重要的作用,“用超快制备超小结构”成为其特色。

关键词: 制备 , 纳米孔 , 小尺寸 , 激光法 , 飞秒 , 光学方法 , 纳米结构 , 衍射极限

取向膜印刷精度的改善研究

郑先锋 , 祝迎花 , 金相旭 , 左长云 , 刘志强 , 张建政 , 陈力

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142905.0655

为了实现TFT LCD产品的窄边框化,分析了不同因素的影响程度,加强了对取向膜印刷精度的管控.同时对涉及该过程相关因素进行研究分析.对取向膜印刷精度相关的APR版收缩率、APR版固定夹具、APR版边缘角度、APR版边缘开口率进行优化测试,找到了可以控制取向膜印刷精度的方法.实验结果表明:通过对APR版收缩率进行优化后,可以明显改善PI EM的过程能力(Ppk 0.66→1.31);通过对APR版的夹具固定方式和挂版方式进行改善,边缘波动可以明显改善(边缘与中间Panel EM波动范围在477→138 μm);通过对APR版边缘300 μm的角度变更(75°→45°),边缘波动改善明显(63→43 μm);通过对APR版边缘300 μm的开口率优化(30%→35%),降低载液量,边缘波动得到进一步优化(43→22 μm).该方法可以满足取向膜印刷精度的稳定管控、适应窄边框等要求.

关键词: TFT LCD , 小尺寸 , 窄边框 , 取向膜印刷精度

小尺寸FFS产品Zara分析与改善研究

刘利萍 , 吴涛 , 刘俊豪 , 叶超前 , 陆相晚 , 崔完鎔

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142905.0697

通过对大量Zara样品进行分析,构建了不良现象——对应原因(Phenomenon Cause)的4种理论模式,并基于此理论设计了改善Zara的实验.通过分析发现:约5μm左右可移动的Zara主要为摩擦工艺过程产生的碎屑;10~25 μm按压不动的Zara主要为取向膜涂覆过程中的颗粒引起;轮廓清晰尺寸较大的Zara主要来自环境颗粒;无清晰轮廓且体积较大的Zara主要为摩擦取向失效形成的岛状漏光.为降低Zara不良进行实验,结果显示:增加取向膜在基板上的覆盖率以及变更彩膜涂层材料可有效降低Zara不良的发生率;此外,减小柱状隔垫物的坡度角度能够从源头上有效防止Zara的产生.Zara不良的研究与改善提升了小尺寸FFS产品的良率5%以上,为企业的稳定高效生产奠定了基础.

关键词: TFT-LCD , 小尺寸 , Zara , 分类

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