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Fe1-xBx磁性纳米膜微波磁损耗研究

陆纲 , 田卫 , 张豹山 , 许卫东 , 杨燚 , 陆怀先

兵器材料科学与工程 doi:10.3969/j.issn.1004-244X.2005.05.008

用直流磁控溅射法制备了Fe1-xBx薄膜.用谐振腔点频测试其微波磁损耗.测试结果和理论计算基本相符.研究了薄膜的制备工艺、组分、厚度、各向异性场、饱和磁化强度和阻尼系数等对微波磁损耗的影响.发现增大薄膜的各向异性场或饱和磁化强度、适当增大阻尼系数对提高磁损耗和展宽共振峰频带有益,而且阻尼系数的微小变化将对磁损耗值产生重要作用.试验也表明制备工艺、薄膜组分、厚度对磁损耗具有重要影响.

关键词: 纳米薄膜 , 微波参数 , 磁损耗