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粗大晶粒PZT陶瓷中电畴的结构

戴林杉 , 包生祥 , 曾慧中

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2004.05.009

应用扫描力显微镜(SFM)的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构.结果表明,将样品晶粒的微形貌与SFM的纵向和侧向压电响应信号相结合,能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构.用SFM可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电畴,不会引入表面应力等影响因素,能得到样品的原生畴结构.对原生畴结构的观察表明,对于受应力较大的晶粒,成畴的主要原因是降低应变能,而受应力较小的晶粒成畴的主要原因是降低退极化能.

关键词: 无机非金属材料 , 铁电体 , 扫描力显微镜 , 电畴 , PZT陶瓷 , 压电响应

纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜成像研究进展

曾华荣 , 方健文 , 惠森兴 , 李国荣 , 殷庆瑞

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2002.06.002

扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺度铁电畴结构成像、纳米尺度畴结构控制及纳米尺度微区的铁电性、介电性、压电性等特性研究的潜在的强有力的研究工具.本文就纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜的成像原理的研究进展作一综述.

关键词: 纳米尺度 , 铁电畴 , 扫描力显微镜

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