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低温高压快速生长纳米晶硅薄膜中氢的作用

邱胜桦 , 陈城钊 , 刘翠青 , 吴燕丹 , 李平 , 林璇英 , 黄翀 , 余楚迎

功能材料

以SiH4/H2为气源,用PECVD沉积技术,在低温(200℃)、高压下(230Pa)下制备出优质纳米晶硅薄膜.研究氢在高速生长纳米晶硅薄膜材料中的作用.实验表明,氢对纳米晶硅薄膜的高速生长起到非常关键的作用.随着氢稀释率由95%提高至99%,薄膜的晶化率由30%增大到70%,晶粒尺寸由3.0nm增大至6.0nm,而沉积速率却由0.8nm/s降低至0.3nm/s.

关键词: 纳米晶硅薄膜 , 氢稀释 , 晶化率 , RF-PECVD

用SiCl4/H2沉积纳米晶硅薄膜过程中氢稀释量对SiCln(n=0~2)密度的影响

娄艳辉 , 王照奎 , 林揆训 , 林璇英

功能材料

用质谱、朗缪尔探针诊断技术研究了氢稀释的SiCl4作为源气体,用等离子体增强化学气相方法进行纳米晶硅薄膜的生长.进一步研究了氢稀释比率对SiCl4等离子体中SiCln(n=0~2)基团浓度的影响.等离子体中,平均电子能量和电子密度分别随着氢稀释比率的增加而达到9.25eV和3.7×109cm-3.结果发现,在0.4~0.67范围的氢稀释比率对于形成SiCln(n=0~2)基团很有利.在这个范围,平均电子能量和电子密度都有较大的值.生成较多的SiCln(n=0~2)基团将有利于提高薄膜沉积速率和薄膜质量.

关键词: 氢稀释 , 纳米硅薄膜 , SiCln(n=0~2)基团

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