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氨化温度对氨化Si基Ga2O3/Cr膜制备GaN纳米结构的影响

王邹平 , 薛成山 , 庄惠照 , 王英 , 张冬冬 , 黄英龙 , 郭永福

功能材料

采用磁控溅射的方法在Si(111)衬底上溅射沉积Ga2O3/Cr膜,并通过氨化的方法在Si(111)衬底上成功合成了六方纤锌矿GaN纳米结构材料,研究了不同的氨化温度对合成GaN纳米材料的影响.采用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HR-TEM)、傅里叶红外吸收(FTIR)光谱来检测样品的形态,结构和成分,并且讨论了GaN纳米结构的生长机理.研究结果表明,在Cr催化合成GaN纳米结构的过程中,氨化温度对其有重要影响,最佳温度是950℃.

关键词: Ga2O3/Cr膜 , GaN纳米线 , 氨化温度 , 磁控溅射

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