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氩氧比对磁控溅射ZnO薄膜的压电响应与极化特性的影响

苏林 , 杨保和 , 王芳 , 李翠平 , 戴玮

人工晶体学报

保持总的工作气压不变,在不同氩氧比条件下,采用射频磁控溅射法在铝电极层上制备了ZnO薄膜.用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)和压电响应力显微镜(PFM)分析了ZnO薄膜的择优取向、表面形貌和压电响应,并通过垂直PFM(VPFM)和水平PFM(LPFM)相位图研究了ZnO晶粒的极化特性.结果表明,氩氧比对ZnO薄膜的晶体结构和压电特性有显著影响,其中在氩氧比1∶1的条件下制备的ZnO薄膜具有最大的VPFM振幅和最佳的极化取向一致性.

关键词: 氩氧比 , 磁控溅射 , ZnO薄膜 , 压电响应 , 极化取向

直流磁控溅射工艺对ZnO薄膜结构影响的研究

吕文中 , 贾小龙 , 何笑明

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.01.008

ZnO是一种新型的Ⅱ-Ⅵ族直接带隙化合物材料,是一种很有潜力的短波长光电器件材料.当ZnO薄膜具有良好的c轴取向和晶格结构时,可得到优良的光电性能比如紫外光受激发射.本实验用XRD和SEM研究了工艺条件如基片温度、氩氧比及退火工艺对ZnO薄膜结构特性的影响.结果表明在基片温度250℃、氩氧比为1∶4的条件下,可得到结晶质量良好的ZnO薄膜;通过退火可以使薄膜应力得到驰豫,降低缺陷浓度,改善薄膜的结构特性.本实验采用直流磁控溅射的方法,最终在(100)硅衬底基片上制备出了高c轴取向、晶粒尺寸约70nm的ZnO薄膜.

关键词: ZnO薄膜 , 基片温度 , c轴取向 , 退火 , 氩氧比 , 结晶质量

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