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原子力显微镜在合成膜表征中的应用

钱欣 , 程蓉

膜科学与技术 doi:10.3969/j.issn.1007-8924.2004.02.015

原子力显微镜(AFM)在其发明不久即应用于膜科学领域,并以其无可比拟的优势获得了广泛的应用.它不仅可以定性地表征膜的表面三维形貌,还能定量地研究膜表面的粗糙度、孔径大小和分布及球粒尺寸.综述了近年来原子力显微镜在合成膜表征中的应用,对其中几个重要方面进行了举例介绍.

关键词: 原子力显微镜 , 合成膜 , 孔径分布 , 球粒

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