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孟杨谷林张文征
金属学报 doi:10.3724/SP.J.1037.2009.00577
本文介绍了一种应用透射电镜(TEM)的电子衍射菊池花样来精确测量无理择优界面取向的方法. 根据误差分析的结果, 该方法从提高测量精度和增大界面矢量间夹角两方面出发, 分别测量界面迹线和直立(edge-on)取向,计算无理择优界面的取向. 相对其它方法, 该方法将测量误差的影响降到最小, 其计算结果分布集中, 收敛性最好.
关键词: 界面取向 , interface trace , Kikuchpaern , edge–on orientation
孟杨 , 谷林 , 张文征
本文介绍了一种应用透射电镜(TEM)的电子衍射菊池花样来精确测量无理择优界面取向的方法.根据误差分析的结果,该方法从提高测量精度和增大界面矢量间夹角两方面出发,分别测量界面迹线和直立(edge-on)取向,计算无理择优界面的取向.相对其它方法,该方法将测量误差的影响降到最小,其计算结果分布集中,收敛性最好.
关键词: 界面取向 , 界面迹线 , 菊池花样 , 直立取向
