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脉冲激光沉积法制备Ge-Se-Bi硫系玻璃薄膜的结构

潘瑞琨 , 臧浩春 , 林常规 , 陶海征 , 赵修建 , 章天金

材料科学与工程学报

采用脉冲激光沉积法制备了(GeSe2)100-x-Bix(x=0~12)硫系玻璃薄膜.测量了薄膜的光学透射谱、吸收谱和拉曼光谱.薄膜的光学短波吸收边对应于电子的间接带间跃迁,并由此计算出其光学带隙.拉曼光谱分析表明Bi含量的增加,减小了玻璃的平均键能,导致光学带隙由1.94 eV减小到1.11 ev.Tauc斜率由486 cm-1/2eV-1/2减小到178 cm-1/2eV-1/2.退火过程中的热漂白效应减小了玻璃的结构无序性,使得薄膜的光学带隙和Tauc斜率相应增大.

关键词: 硫系玻璃薄膜 , 光学带隙 , 拉曼光谱

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