韦永林
,
朱世富
,
赵北君
,
王瑞林
,
高德友
,
魏昭荣
,
李含东
,
唐世红
人工晶体学报
doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.02.014
通过测试富Cd原料无籽晶垂直布里奇曼法生长出的高阻Cd0.8Zn0.2Te (CZT)单晶体的I-T特性曲线,利用热激活能原理来分析单晶体内的缺陷,结果得到晶体中有一个由镉空位引起的电子陷阱,其深度为0.539eV.由于俘获能级有较高的激活能,在常温下,价带上的载流子不会被激发,所以该晶体适用于制作室温核辐射探测器.另外还研究了CZT晶体在室温下的I-V特性,测得采用该方法生长的CZT单晶体电阻率高达5.0×1010Ω*cm,制作的核辐射探测器在室温下获得了比较好的241Am 59.5keV能谱.
关键词:
CZT单晶体
,
I-T特性曲线
,
激活能
,
探测器
,
缺陷能级
李世帅
,
冯秀鹏
,
黄金昭
,
张仲
,
陶冶微
功能材料
以Zn(NO3)2和NaOH为原料,在不使用任何添加剂的条件下,采用水热合成法在不同的合成时间和合成温度下制备棒状纳米ZnO颗粒.通过X射线衍射(XRD)、透射电镜(TEM)、光致发光谱(PL)、电导率测试对样品进行表征.结果表明,所制备的纳米ZnO粉末具有六方红锌矿结构并沿(101)面择优生长;随着合成时间和温度的增加,样品的纯度逐渐增加;合成时间为25h,温度为200℃时,样品的结晶最好,样品基本成棒状,平均直径约为30～40nm,长度约为300～400nm、电阻率最大,且在376nm和500～600nm处有明显发射现象.深入分析了上述结果的形成原因.
关键词:
水热合成
,
纳米ZnO
,
光致发光
,
电阻率
,
缺陷能级
赵建果
,
赵阿可
,
谢二庆
,
张伟英
,
刘照军
功能材料与器件学报
doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2011.04.013
用溶胶-凝胶法制备了Eu3+离子掺杂的TiO2-SiO2复合薄膜并研究了退火温度对复合薄膜的光致发光的影响.并采用XRD、Raman和光致发光谱对其进行了一系列的表征.在退火温度为700℃的时候,Eu3+离子引起的发光强度是最强的,而随着退火温度的升高由TiO2本身的Ti3+离子缺陷能级引起的在近红外820nm处的发光峰的强度变得越来越强,一方面是因为随着退火温度的升高Ti3+离子增多,即缺陷能级数量增多,另一方面是Eu3+离子的能量背传递给Ti3+离子缺陷能级,这两个原因导致820nm处的发光峰强度随退火温度而增强.
关键词:
TiO2-SiO2
,
光致发光
,
缺陷能级
,
能量传递
邱春霞
,
阮永丰
,
张灵翠
,
刘雅丽
,
王帅
人工晶体学报
采用溶胶-凝胶法在铟锡氧化物(ITO)导电玻璃基底上制备了不同掺杂浓度的Cu∶ ZnO薄膜.采用X射线衍射仪和扫描电子显微镜分析了薄膜样品的晶相结构和形貌,用荧光光谱仪测量了薄膜样品的光致发光谱.结果表明:Cu∶ ZnO薄膜均为六角纤锌矿结构,呈c轴择优取向,且因压应力的存在使其晶格常数略小于未掺杂薄膜样品的晶格常数；低温和高温退火处理的薄膜样品的光致发光谱(PL)中分别观察到414 nm、438 nm的蓝光双发射峰和510 nm左右的绿光发射峰.蓝光发射峰与样品中的Vzn和Zni有关,而绿光发射峰与样品中的Vo -Zni有关.
关键词:
溶胶-凝胶法
,
Zn1-x Cux O薄膜
,
光致发光谱
,
缺陷能级
李刚
,
桑文斌
,
闵嘉华
,
钱永彪
,
施朱斌
,
戴灵恩
,
赵岳
无机材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2008.05.037
利用低压垂直布里奇曼法制备了不同In掺杂量的CdZnTe晶体样品,采用低温光致发光谱(PL)、深能级瞬态谱(DLTS)以及霍尔测试等手段研究了In掺杂CdZnTe晶体中的主要缺陷能级及其可能存在的补偿机制.PL测试结果表明,在In掺杂样品中,In原子占据了晶体中原有的Cd空位,形成了能级位于Ec-18meV的替代浅施主缺陷[In+Cd],同时[In+Cd]还与[v2-Cd]形成了能级位于Ev+163meV的复合缺陷[(In+Cd-V2-Cd)-].DLTS 分析表明,掺In样品中存在导带以下约0.74eV的深能级电子陷阱能级,这个能级很可能是Te反位[Tecd]施主缺陷造成的.由此,In掺杂CdZnTe晶体的电学性质是In掺杂施主缺陷、Te反位深能级施主缺陷与本征受主缺陷Cd空位和残余受主杂质缺陷补偿的综合结果.
关键词:
碲锌镉
,
低温PL
,
深能级瞬态谱
,
缺陷能级
