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硅探测器的数字化脉冲形状甄别

李朋杰 , 李智焕 , 陈志强 , 吴鸿毅 , 田正阳 , 蒋伟 , 李晶 , 冯骏 , 臧宏亮 , 刘强 , 牛晨阳 , 杨彪 , 陶龙春 , 张允 , 孙晓慧 , 王翔 , 刘洋 , 李奇特 , 楼建玲 , 李湘庆 , 华辉 , 江栋兴 , 叶沿林

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.34.02.177

介绍了利用硅探测器的脉冲形状甄别进行粒子鉴别的原理.详细叙述了基于数字化方法的脉冲形状甄别的实现.采样频率和位数是数字化方法的两个重要参数.对于硅探测器信号,采用100 MS/s,12 bit的Digitizer可以满足脉冲形状甄别法对时间分辨的要求.同时对该方法粒子鉴别的特征和能量阈值做了简要的分析和对比.粒子背面入射硅探测器的所得的阈值低于正面入射的情况.例如对于氖周围的同位素,背面入射情况的阈值约为100 MeV,为正面入射情况下鉴别阈值的二分之一,相当与?E-E方法中?E探测器厚度约为60μm情况下的阈值.最后定性讨论了硅探测器的电阻率不均匀性和沟道效应对粒子鉴别性能的影响.

关键词: 硅探测器 , 脉冲形状甄别 , 上升时间 , 数字化方法 , 能量阈值 , 电阻率不均匀性 , 沟道效应

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