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自分离硅微通道的氧化

田菲 , 袁丁 , 王连卫

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2009.05.012

本文研究了自分离硅微通道(self lift-off silicon microchannels)的氧化问题.自分离是在特定的实验条件下,在完成电化学刻蚀后,硅微通道可以自动和衬底分离的一种新技术.研究发现,在使用传统的干氧-湿氧-干氧氧化化过程中,硅微通道出现了弯曲变形的现象.微通道越薄,其形变越大.通过使用较厚的硅微通道以及在干-湿-干氧化过程之前增加了干氧,以及先进行激光切割的步骤,改善和基本消除了弯曲变形的现象.

关键词: 自分离硅微通道 , 弯曲变形 , 氧化

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