孙淑华
物理测试
doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2004.04.002
采用单侧电解减薄方法制备了组织稳定和不稳定的两种材料原始空蚀表面的TEM薄膜试样,并对相应的材料空蚀表面组织特征进行了研究.结果表明:单侧电解减薄方法不但适于金属材料空蚀表面TEM试样的制备,也适于磨损、冲蚀情况下材料损伤表面TEM试样的制备,特别是在材料组织不稳定的时候;空蚀使材料表面位错密度大大增加;在奥氏体稳定情况下,空蚀会诱发出宽约10 nm的精细形变孪晶,在奥氏体不稳定情况下,空蚀会诱发γ/ε以及γ/α′转变.
关键词:
空蚀
,
薄膜试样
,
TEM
,
显微组织
