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基于静电力显微镜的绝缘体表面电荷微纳米尺度测量系统

赵慧斌 , 韩立 , 王秀凤

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2007.02.022

基于静电力显微镜(EFM)设计了一套在微纳米尺度下观察研究电介质表面电荷的系统.该系统设有温度和湿度调节系统,可实现不同气体环境,并可模拟紫外照射功能.该系统为电介质表面电荷的研究提供了一种新的手段,为从微观尺度解释表面电荷的生成和行为特性提供了新的途径.

关键词: 扫描探针显微镜 , SPM , 绝缘材料 , 表面电荷测量

真空环境下介质表面电荷分布的测量方法

张要强 , 郑晓泉 , 刘晓东 , 曲文波 , 马丽婵

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2006.03.017

对比分析了真空中介质表面电荷分布测量中三类较实用的方法:表面电位法、静电容探头法、普克尔斯效应反射法,阐述了真空中介质表面电荷测量方法的研究新成果,最后提出了这一领域留待解决的新问题.

关键词: 表面电荷测量 , 表面电位 , 静电容 , 普克尔斯效应

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