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AlN微粉表面结合状态的XPS研究

李友胜 , 李凝芳

耐火材料 doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2001.04.018

通过X射线光电子能谱(XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态.结果表明:AIN微粉的表面有明显的氧化层存在;AlN微粉表面结合状态为Al-O和Al-N复合型结合;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的,并以WO42-形式分布于AlN微粉表面.

关键词: AlN微粉 , X射线光电子能谱(XPS) , 表面结合状态