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青铜文物光电子能谱分析

陈善华 , 刘思维 , 孙杰

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2006.z1.099

采用光电子能谱(XPS)分析方法研究了成都金沙遗址出土铜条和方孔型器两种青铜表面锈层膜的元素及其化学状态.实验结果表明,铜条和方孔型器青铜的锈层膜中都存在纯铜晶粒和PbCO3/PbO,但没有发现导致"青铜病"的有害Cl元素,而在方孔型器锈层膜中发现有S2-/SO42-.铜条和方孔型器夹层锈层膜中的Sn元素完全以SnO2形式存在,从而使青铜合金免遭进一步腐蚀.此外,还结合实验结果讨论了青铜的腐蚀过程与环境之间的关系.

关键词: 金沙青铜器 , 腐蚀 , 光电子能谱