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溶胶-凝胶技术制备(Bi4-x,Lax)Ti3O12陶瓷的工艺技术研究

申林 , 肖定全 , 余萍 , 朱建国 , 朱居木 , 高道江

功能材料

采用3种溶胶-凝胶(sol-gel)工艺,以硝酸铋、硝酸镧和钛酸丁酯为原料,制备掺镧钛酸铋(Bi4-x,Lax)Ti3O1 2(简记为BLT)陶瓷.通过控制溶胶-凝胶工艺,分析比较不同溶胶-凝胶过程对陶瓷结构的影响,为后续BLT铁电薄膜的溶胶-凝胶制备选择最佳工艺技术条件.研究发现采用滴定方式的sol-gel工艺制备的陶瓷具有较好的取向和结构.

关键词: (Bi4-,,Lax)Ti3O1 2 , sol-gel , 铁电陶瓷 , 铁电薄膜

Nd和Mg共掺杂钛酸铋铁电薄膜的电性能研究?

胡增顺 , 晋玉星 , 杨桦

合成材料老化与应用

利用化学溶液沉积法在Pt/Ti/SiO2/Si (100)基底和700℃条件下分别制备了Nd和Mg (不同浓度)共掺杂的钛酸铋薄膜Bi3.15Nd0.85Ti(3-x)Mg2xO12(BNTM)(x=0.00,0.06,0.10和0.14),并进行了这一系列薄膜的包括微结构、介电、铁电和漏电流等特性的研究和对比。发现当Mg含量为x=0.10时,薄膜具有较高的剩余极化强度(2Pr=33.40μC/cm2)和介电常数(ε=538,频率为1kHz),其漏电流密度为10-8A/cm2。讨论了相关的物理机制。

关键词: 铁电薄膜 , 共掺杂 , BNTM , 化学溶液沉积法

Bi4Ti3O12铁电薄膜I-V特性的研究

王华 , 李岩

功能材料

采用溶胶-凝胶工艺(Sol-Gel)在Pt/Ti/SiO2/p-Si衬底上成功制备了低漏电流Bi4Ti3O12(BIT)铁电薄膜,对所得样品的漏导行为进行了研究.研究表明,Bi4Ti3O12薄膜的漏电流密度在+3V偏压下低于10-9A/cm2,满足器件应用的要求.在不同场强下薄膜的漏导机制不同,而且正向和负向电场作用下I-V曲线明显不同,正向漏电流明显小于负向漏电流.电压低于2V时,薄膜以欧姆导电机制为主,电压在2~5.4V(加正向电压)或2.2~3.6V(加负向电压)时,BIT薄膜应以Schottky emission导电机制为主;而对于较高的场强下,BIT薄膜以Space-charge limited currents(SCLC)导电机制为主.

关键词: 铁电薄膜 , Bi4Ti3O12 , 漏导机制 , I-V特性

热处理对STO铁电薄膜微结构的影响

张勤勇 , 蒋书文 , 李言荣 , 张万里

功能材料

系统研究了CFA与RTA两种热处理方式以及热处理温度和时间对STO薄膜微结构的影响.STO薄膜采用脉冲激光沉积法(PLD)制备.采用原子力显微镜(AFM)和XRD分别对薄膜的表面形貌和晶粒结构进行分析.结果表明,在热处理温度650~800℃范围内,相对于CFA、STO薄膜经RTA热处理后,薄膜表面晶粒大小分布均匀、致密.两种热处理方法都使薄膜的晶粒直径随温度升高而增大,并且温度越高,薄膜的晶形越完整,同样热处理温度下,RTA与CFA相比薄膜的晶粒较小,两种热处理方法的最大晶粒尺寸都<120nm.但XRD分析结果表明,在相同热处理温度下,CFA热处理的结晶转化率较RTA热处理要高.在一定范围内,RTA热处理时间对薄膜晶粒尺寸影响不大,热处理时间越长,晶粒更加完整,表面更加均匀平整,结晶转化率越高.

关键词: STO , 铁电薄膜 , 晶化 , CFA , RTA

STO/YBCO薄膜的制备及介电性能研究

李德红 , 刘兴钊 , 何世明 , 陆清芳 , 李言荣 , 张鹰 , 申妍华 , 陈家俊

功能材料

采用脉冲激光沉积技术,在(100)LaAlO3单晶基片上生长SrTiO3/Y1Ba2Cu3O7-x(STO/YBCO)多层薄膜.XRD分析表明:YBCO薄膜和STO薄膜均为C轴取向,STO(002)/YBCO(006)衍射峰摇摆曲线半高宽为0.73°.AFM分析表明,STO/YBCO多层薄膜表面平整、均匀,在77K,100kHz的测试条件下,STO薄膜介电损耗tgδ<10-2,在53.6kV/cm电场作用下,介电常数的相对变化为38%.

关键词: STO , 铁电薄膜 , 脉冲激光沉积 , 界面势垒

微弧氧化制备BaTiO3铁电薄膜的添加剂优选

王敏 , 郭会勇 , 李文芳

有色金属工程 doi:10.3969/j.issn.2095-1744.2014.02.007

以纳米BaTiO3、纳米TiO2、乙二醇、甘油和三乙醇胺分别作为添加剂,在0.5 mol/L Ba(OH)2基础溶液中,采用微弧氧化在钛板表面原位生长铁电薄膜,利用XRD、SEM、EDS和HP4284型电容探测仪等对薄膜的物相构成、厚度、表面粗糙度、元素分布及介电性能进行表征.结果表明,所得薄膜的物相组成均主要是四方相BaTiO3,添加剂的加入对物相无影响.甘油可显著改善薄膜的表面形貌,降低表面粗糙度值,所得薄膜介电性能优越,100 Hz条件下其介电常数和介质损耗值分别为200.7和0.055.纳米TiO2和乙二醇也可降低薄膜表面粗糙度且使薄膜生长速度升高,但两者对薄膜介电性能的优化不及甘油.故欲获得表面形貌良好、生长速度较快且介电性能优越的BaTiO3铁电薄膜,可选择甘油作为添加剂.

关键词: BaTiO3 , 铁电薄膜 , 微弧氧化 , 添加剂

退火温度对Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜微观结构影响研究

王华 , 于军 , 王耘波 , 倪尔瑚

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2002.11.008

采用Sol-Gel工艺制备了Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜.研究了退火温度对Si基Bi4Ti3O12薄膜晶相结构、晶粒尺寸及薄膜表面形貌的影响.研究表明,退火温度低于450℃时Bi4Ti3O12薄膜为非晶状态,退火温度在550~850℃范围时均为多晶薄膜,而且随退火温度升高,Bi4Ti3O12薄膜更趋向于沿c轴取向的生长;而晶粒尺寸及薄膜粗糙度随退火温度升高而增大,但在较高温度下增长速度趋缓.

关键词: 铁电薄膜 , Bi4Ti3O12 , 微观结构 , 退火温度

微弧氧化法制备BaTiO3薄膜的微观结构分析

李文芳 , 韩冰 , 彭继华

材料开发与应用 doi:10.3969/j.issn.1003-1545.2007.02.009

利用X射线衍射仪、透射电镜和能谱仪(EDS)等对采用微弧氧化技术在钛衬底上制备的钛酸钡铁电薄膜的微观结构进行了分析.结果表明,Ba(OH)2浓度为0.2mol/L、电流密度为5A/cm2、电源频率为250Hz、微弧氧化时间为30min制备的薄膜以六方相、四方相的BaTiO3和非晶相为主;经过1200℃退火8h后,薄膜中的BaTiO3以四方相为主,非晶相消失,但部分六方相仍然保留.

关键词: 微弧氧化 , 铁电薄膜 , BaTiO3 , TEM

BST类铁电薄膜的最低晶化温度和自装生长研究

李金隆 , 张鹰 , 李言荣 , 邓新武 , 熊杰

功能材料

利用激光分子束外延技术(LMBE)在Si(111)、SrTiO3(100)单晶基片上在(10-5pa)高真空环境中外延生长SrTiO3(STO)、BaTiO3(BTO)、Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)铁电薄膜.通过反射高能电子衍射(RHEED)实时监测薄膜生长,并结合原子力显微镜(AFM)分析薄膜的生长模式.根据RHEED衍射强度振荡曲线及衍射图样的变化确定动态和静态最低晶化温度,发现STO、BTO、BST三种铁电薄膜可以分别在280℃、330℃、340℃的低温下实现外延层状生长.当保持BTO(110)/Si(111)层状生长,逐渐降低沉积速率时,发现这种层状模式中每层高度是由整数倍单胞堆积而成,并且随着沉积速率从0.017nm/s降低到0.005nm/s时,每层高度由9降低到1个BTO单胞构成,这对由ABO3钙钛矿材料自组装形成纳米结构具有重要意义.

关键词: 铁电薄膜 , BST , 外延生长 , LMBE

铁电薄膜移相器研究进展

余桉 , 杨传仁 , 张继华 , 陈宏伟 , 王波 , 张瑞婷

材料导报

铁电薄膜移相器响应速度快、成本低、功耗和体积小,是一种模拟移相器,非常适合应用于相控阵天线特别是共形阵天线.介绍了4种主要的铁电薄膜移相器的结构、原理、性能和特点,指出分布型和全通网络型铁电薄膜移相器具有良好的发展前景,并进一步总结了国内外研究现状和存在的问题,提出了今后的研究方向.

关键词: 移相器 , 铁电薄膜 , 相控阵天线 , BST可变电容 , BST薄膜

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