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磁控溅射Cu-W薄膜的组织与结构

王瑞 , 周灵平 , 汪明朴 , 朱家俊 , 李德意 , 李绍禄

材料科学与工程学报

采用双靶磁控溅射共沉积方法制备Cu-W薄膜,其微观结构及形貌通过XRD、TEM和SEM方法测试,结果表明,Cu-W薄膜是由Cu固溶于W或W固溶于Cu的亚稳态固溶体组成,且随着W含量的增加,Cu-W薄膜依次形成面心立方fee结构的Cu基亚稳固溶体、fee和bee结构固溶体的双相区以及体心立方bee结构的W基亚稳固溶体,晶粒尺寸随溶质原子含量的增加而减小.这些亚稳固溶体的形成是由于溅射出的原子动能足以克服Cu、W固溶所需的混合热.以及溅射过程中粒子的纳米化和成膜过程中引入的大量缺陷造成的.

关键词: 低维金属材料 , 铜钨薄膜 , 磁控溅射 , 亚稳固溶体

离子束溅射铜钨薄膜的结构

曾莹莹 , 罗志扬

材料保护

为了进一步探讨离子束溅射铜钨薄膜的结构,在铁片上离子束溅射铜钨薄膜,研究了轰击离子束能量及低能辅助轰击方式对薄膜相结构和厚度的影响.结果表明:随轰击铜靶离子束能量增加,钨由近似非晶亚稳态转变成晶态;由于溅射粒子落到基片前的反射效应,薄膜中间比边缘薄,且随轰击铜靶离子束能量增加,薄膜变薄到一定程度时开始增厚;当使用低能辅助轰击时,原子喷丸效应使薄膜难以沉积.

关键词: 离子束溅射 , 铜钨薄膜 , 离子束能量 , 相结构 , 膜厚

Ar+及沉积气压对离子溅射制备铜钨复合膜结构的影响

曾莹莹 , 艾永平

兵器材料科学与工程 doi:10.3969/j.issn.1004-244X.2010.04.022

研究双离子束溅射组装铜钨复合膜Ar+能量及束流对膜影响.用XRD分析溅射沉积后的薄膜结构.实验结果表明,随靶Ar+能量和束流增加,铜钨膜向晶态化转变.铜钨复合膜的沉积速率主要由钨靶Ar+束流决定,并且增加气压会使复合膜晶粒尺寸变小,固溶进钨的铜原子也会相应减少.

关键词: 铜钨薄膜 , 离子束溅射 , Ar+能量 , 束流 , 晶粒度

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