孙秋霞
,
张鉴清
,
林薇薇
金属学报
doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2004.11.016
根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法,探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用.CR电路拟合稳定性较高,对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律,导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响.对于阻挡性不完整的薄涂层,在-定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f*变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关,但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化,并解释了其原因.
关键词:
阻抗谱
,
传输线
,
涂层厚度
,
阻挡性
,
粘结力
