鹿晴晴
,
徐永钊
,
张霞
,
黄永清
,
任晓敏
量子电子学报
doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2008.04.023
报道了利用光纤中的自相位调制(SPM)效应对微结构光纤的非线性系数进行测量的实验.实验中采用半导体激光器作为脉冲光源,输出宽度为1.6 ps的双曲正割型脉冲,经掺铒光纤放大器(EDFA)放大后进入80 m的色散平坦微结构光纤,由于自相位调制效应,出射光谱得到展宽.通过测量输入微结构光纤的脉冲峰值功率和输出光谱,可以计算得到微结构光纤的非线性系数.该测量方法简单、准确,实验测量值与光纤的标称值误差小于1%.
关键词:
光纤光学
,
微结构光纤
,
自相位调制
,
非线性系数测量
