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荫罩型等离子体显示屏老练测试仪

杨晓伟 , 陈福朝 , 汤勇明 , 郑姚生

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2003.04.005

老练测试在研制荫罩型等离子体显示屏(SM-PDP)过程中起着非常关键的作用.以往等离子体显示屏的老练只是一种单纯的点屏实验过程,而基于SM-PDP的特点所研制的老练测试仪则兼顾了老练与测试功能,使老练和测试完全自动化.一种适用于SM-PDP的老练测试仪的设计与实现,是将原有的基本老练过程改进为老练测试过程;这不仅要求改变驱动的激励方式,而且需求一种有效的测试方法,从而达到较全面地了解制屏质量的目的.实验及测试表明,使用这种老练测试仪不但能改善SM-PDP的发光一致性和均匀性,而且能有效地衔接制屏工艺、点屏老练以及测试过程,从而提高了制屏成品率并降低了老练过程中的屏损坏率.

关键词: 等离子体显示屏 , 荫罩 , 老练测试 , 保护电路

用于OLED的a-Si TFT有源驱动阵列保护电路的分析

张彤 , 王丽杰 , 许武 , 郭小军 , 赵毅 , 刘式墉

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2004.04.010

在模拟与仿真的基础上,根据MOS器件的源漏击穿特性,分析了用于a-Si TFT有源驱动阵列的外围保护电路的工作原理;同时根据所采用的有源OLED单元像素驱动电路的特点,确定了电源线、数据线、信号线上的相应保护电路形式.该保护电路可应用于OLED的有源驱动TFT阵列.

关键词: OLED , a-Si TFT , 有源驱动 , 穿通效应 , 布图设计 , 仿真模拟

电路中电感元件换路时的过电压保护

叶桂珍 , 姚融融

物理测试

电感元件是一种储能元件,当电路在换路时,会出现过渡过程。尽管其过渡过程的时间很短,只有几秒、几亳秒甚至几微秒,然而它对电路的影响却是很大的,为了防止在过渡过程中电感元件的两端引起过电压,可以采取文章所叙述的防护措施,这样就尽可能地保护电器设备。

关键词: 电路换路 , inductor , overvoltage protection , countermeasure

电路中电感元件换路时的过电压保护

叶桂珍 , 姚融融

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2007.02.016

电感元件是一种储能元件,当电路在换路时,会出现过渡过程.尽管其过渡过程的时间很短,只有几秒、几亳秒甚至几微秒,然而它对电路的影响却是很大的,为了防止在过渡过程中电感元件的两端引起过电压,可以采取文章所叙述的防护措施,这样就尽可能地保护电器设备.

关键词: 电路换路 , 电感元件 , 过电压 , 防护措施

微波固态电路腔体的磁控溅射镀银工艺研究

李晓艳 , 仝晓刚

电镀与精饰 doi:10.3969/j.issn.1001-3849.2014.06.003

研究了铝合金微波固态电路腔体磁控溅射镀银工艺方法.通过对铝合金微波固态电路腔体进行化学氧化、磷酸阳极氧化前处理,解决铝基材微波固态电路腔体溅射银层的附着力问题;通过保护工装设计,实现腔体选择性溅射,满足微波固态电路组装要求.

关键词: 磁控溅射 , 铝合金基体 , 局部镀银 , 微波固态电路腔体

微波电路元件中InPbAg合金焊点失效分析

马丽丽 , 包生祥 , 杜之波 , 王艳芳 , 李世岚 , 彭晶

材料导报

针对微波电路芯片焊接脱落问题,分析了InPbAg合金焊点的微观结构及成分,研究了InPbAg焊料芯片焊接的失效模式.找出了芯片脱落的主要原因:金膜表面污染、划痕、浸润不良、焊接气氛保护不足及应力导致焊点的结合强度不够致使芯片脱落.根据分析提出了改进意见,较好地解决了InPbAg合金焊接芯片脱落问题,支撑了微波电路的生产工艺.

关键词: InPbAg合金 , 焊点 , 微观结构 , 成分 , 浸润不良 , 应力

SiGe ECL电路时间延迟分析

李垚 , 金西 , 孔德义 , 魏同立

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2000.04.010

为保证ECL具有更好的电路性能,低温下制备SiGe HBT作为基本器件的SiGe ECL电路更适于低温应用,且传输延迟时间更小.

关键词:

CMOS电路低温特性及其仿真

周鹏 , 冯一军

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.04.008

本文采用0.25微米工艺制备了CMOS器件和电路,通过对300K、77K和4K温度下器件和电路特性的测量,研究了工作温度降低对CMOS电路特性的影响.通过讨论MOSFET器件和互连线主要特性参数随温度的变化情况,修改了常温CMOS BSIM3模型以及互连线参数,建立了77K、4K温度下的低温电路仿真模型.利用上述新建立的低温电路仿真模型对CMOS电路进行仿真,并将仿真结果与实际测量结果比较,获得了比较一致的结果.研究表明在4K温度下CMOS电路的工作性能大约有50%到60%的改善.

关键词: CMOS器件 , 载流子冻析效应 , 互连线 , 环形振荡器

MID工艺制程电路图案金属化工艺

刘新民 , 刘越

电镀与涂饰

介绍了一套用于模塑互连器件(MID)制造工艺中电路图案金属化的工艺,其流程主要包括:化学除油,除胶渣,化学镀薄铜(种子铜),化学镀厚铜,钯活化,化学镀镍,化学镀金,金保护,烘干.给出了前处理及各化学镀工序的配方与工艺条件.分析了生产中所遇到的技术问题,并提出相应的解决方法.

关键词: 模塑互连器件 , 金属化 , 化学镀 , , ,

硅基液晶像素电路的研究

黄苒 , 杜寰 , 王文博 , 王晓慧 , 韩郑生

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2007.06.018

分析研究了微显示器件的场缓存技术与现有硅基液晶场缓存像素电路的结构特点,提出了一种新型的像素电路结构,此电路改变了以往电路结构中专门采用一个晶体管对像素电容进行放电的做法,通过同一个晶体管对像素电容进行充放电.电路经过Hspice仿真,对结果进行分析表明,其功能及特性符合设计要求,像素电容电荷保持率达到99%.电路具有结构简单,占用芯片面积小,像素电容电荷保持率高等优点,适合高亮度、高分辨率微显示器件的设计与制造.

关键词: 硅基液晶 , 场缓存 , 像素电路

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